如今的开关电源技术很大程度上依托于电源半导体开关器件|普科科技prbtek开关损耗测试方案介绍

如今的开关电源技术很大程度上依托于电源半导体开关器件，如MOSFET和IGBT 。这些器件提供了快速开关速度，能够耐受没有规律的电压峰值。同时在On或Off状态下小号的功率非常小，实现了很高的转化效率，热损耗极低。
开关设备极大程度上决定了SMPS的整体性能。开关器件的损耗可以说是开关电源中最为重要的一个损耗点，课件开关损耗测试是至关重要的。接下来普科科技PRBTEK就开关损耗测试方案中的探头应用进行介绍。

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上图使用MSO5配合THDP0200及TCP0030A等探头
以上方案中通过示波器专门的开关损耗算法，配合泰克探头，完美补偿探头延迟，减少了开关损耗运算过程中产生的误差。测试结果极为可靠。

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TCP0030A及THDP0200参数
探头外观图

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TCP0030A

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THDP0200
附：常见参数介绍
1、带宽，代表了探头可测到的最大信号频率
2、共模抑制比，代表了探头抑制共模干扰的能力，越大代表抑制能力越强
3、输入电容，代表探头对于被测系统的负载影响，输入电容越低，影响越小测试效果越佳
以上内容由普科科技prbtek为您分享，如果您在选型/使用过程有什么问题，咨询普科科技官网：www.prbtek.com
【如今的开关电源技术很大程度上依托于电源半导体开关器件|普科科技prbtek开关损耗测试方案介绍】公司目前致力于示波器测试附件配件研发、生产、销售，涵盖产品包含电流探头、差分探头、高压探头、无源探头、电源纹波探头、柔性电流探头、近场探头、逻辑探头、功率探头和光探头等。