控制器|开关电源的MOSFET如何选择,看这篇就够了!( 二 )



图 2—AC 损耗图
图 3—开关频率对 AC 损耗的影响
开关处在导通状态下出现 DC 损耗 , 其原因是 FET 的导通电阻 。 这是一种十分简单的 I2R 损耗形成机制 , 如图 4 所示 。 但是 , 导通电阻会随 FET 结温而变化 , 这便使得这种情况更加复杂 。 所以 , 使用方程式 3)、4)和 5)准确计算导通电阻时 , 就必须使用迭代方法 , 并要考虑到 FET 的温升 。
降低 DC 损耗最简单的一种方法是选择一个低导通电阻的 FET 。 另外 , DC 损耗大小同FET 的百分比导通时间成正比例关系 , 其为高侧 FET控制器占空比加上 1 减去低侧 FET 占空比 , 如前所述 。 由图 5 我们可以知道 , 更长的导通时间就意味着更大的DC 开关损耗 , 因此 , 可以通过减小导通时间/FET 占空比来降低 DC 损耗 。 例如 , 如果使用了一个中间 DC 电压轨 , 并且可以修改输入电压的情况下 , 设计人员或许就可以修改占空比 。

图 4—DC 损耗图

图 5—占空比对 DC 损耗的影响
尽管选择一个低栅极电荷和低导通电阻的 FET 是一种简单的解决方案 , 但是需要在这两种参数之间做一些折中和平衡 。 低栅极电荷通常意味着更小的栅极面积/更少的并联晶体管 , 以及由此带来的高导通电阻 。 另一方面 , 使用更大/更多并联晶体管一般会导致低导通电阻 , 从而产生更多的栅极电荷 。 这意味着 , FET 选择必须平衡这两种相互冲突的规范 。 另外 , 还必须考虑成本因素 。
低占空比设计意味着高输入电压 , 对这些设计而言 , 高侧 FET 大多时候均为关断 , 因此 DC 损耗较低 。 但是 , 高 FET 电压带来高 AC 损耗 , 所以可以选择低栅极电荷的 FET , 即使导通电阻较高 。 低侧 FET 大多数时候均为导通状态 , 但是 AC 损耗却最小 。 这是因为 , 导通/关断期间低侧 FET 的电压因 FET 体二极管而非常地低 。 因此 , 需要选择一个低导通电阻的 FET , 并且栅极电荷可以很高 。 图 7 显示了上述情况 。

图 7—低占空比设计的高侧和低侧 FET 功耗
如果我们降低输入电压 , 则我们可以得到一个高占空比设计 , 其高侧 FET 大多数时候均为导通状态 , 如图 8 所示 。 这种情况下 , DC 损耗较高 , 要求低导通电阻 。 根据不同的输入电压 , AC 损耗可能并不像低侧 FET 时那样重要 , 但还是没有低侧 FET 那样低 。 因此 , 仍然要求适当的低栅极电荷 。 这要求在低导通电阻和低栅极电荷之间做出妥协 。 就低侧 FET 而言 , 导通时间最短 , 且 AC 损耗较低 , 因此我们可以按照价格或者体积而非导通电阻和栅极电荷原则 , 选择正确的 FET 。

图 8—高占空比设计的高侧和低侧 FET 功耗
假设一个负载点 (POL) 稳压器时我们可以规定某个中间电压轨的额定输入电压 , 那么最佳解决方案是什么呢 , 是高输入电压/低占空比 , 还是低输入电压/高占空比呢?使用不同输入电压对占空比进行调制 , 同时查看 FET功耗情况 。
图 9 中 , 高侧 FET 反应曲线图表明 , 占空比从 25% 增至 40% 时 AC 损耗明显降低 , 而DC 损耗却线性增加 。 因此 , 35% 左右的占空比 , 应为选择电容和导通电阻平衡FET的理想值 。 不断降低输入电压并提高占空比 , 可以得到最低的AC 损耗和最高的 DC 损耗 , 就此而言 , 我们可以使用一个低导通电阻的 FET , 并折中选择高栅极电荷 。 如低侧 FET 图 10 所示 , 控制器占空比由低升高时 DC 损耗线性降低(低侧 FET 导通时间更短) , 高控制器占空比时损耗最小 。 整个电路板的AC 损耗都很低 , 因此任何情况下都应选择使用低导通电阻的 FET 。

图 9—高侧FET 损耗与占空比的关系